百科游戏 手游攻略
最近很多小伙伴在找影响电介质损耗的因素的相关内容,以及电介质产生损耗的原因对应的知识点,劳动晚报小编为大家整理一下《影响电介质损耗的因素》的相关资讯,另外还找了一部分有关《电介质产生损耗的原因》的内容,文章篇幅比较长,希望对大家有帮助!
本文目录一览:
- 1、介质损耗因数偏大的原因有哪些?
- 2、交流电气设备的介质损耗与哪些因素有关
- 3、介质损耗有哪几种形式 产生的原因是什么
- 4、介质损耗因数受哪些因素影响?
- 5、电介质中为什么会有能量损耗
介质损耗因数偏大的原因有哪些?
绝缘介质在交流电压作用下,电介质中的部分电能将转变成热能,这部分能量称为电介质损耗,介质损耗因数一般用正切值tanδ表示。
介质损耗因数偏大的原因及处理方法:
(1)瓷套表面受潮。瓷套表面电阻的大小直接影响tanδ的准确度,因为表面电阻与体积电阻并联在一起,当电桥采用反接法测量时,会使tanδ值偏大。
解决方法是:
1)用电吹风、远红外等烘燥表面,或在日光下暴晒。
2)用挥发性强的液体清洁。
3)用憎水性涂料涂于瓷套表面。
(2)电场干扰。干扰电流Id在被试品电流Ix的右侧,使tanδ测量结果大于实际值,此时应采用试验电源移相法测量tanδ或使用带抗干扰功能的介损仪。
(3)被试品Cx接地回路接触不良。当被试品Cx接地回路接触不良时,会使tanδ值偏大,此时应改善被试品接地回路接触情况。
回复者:华天电力
交流电气设备的介质损耗与哪些因素有关
一、交流电气设备的电介质损耗因素:
1、电气设备的绝缘部件本身应该是绝缘的,内部应该不流过电流,如果内部受潮等流过了小量电流,这个电流就会在绝缘介质中发热,这部分损耗就是介质损耗。
2、介质损耗与介质损耗角的正切值不同,影响介质损耗大于的因素比较多,介质损耗与绝缘材料材质有关,与制造质量有关,与环境温度有关,与运行温度有关,与绝缘材料的劣化程度有关,与供电的电能质量有关,与负荷电流的大小有关,与供电电压的高低有关。
二、电工中一般认为电阻率超过10欧·厘米的物质便归于电介质。电介质的带电粒子是被原子、分子的内力或分子间的力紧密束缚着,因此这些粒子的电荷为束缚电荷。在外电场作用下,这些电荷也只能在微观范围内移动,产生极化。在静电场中,电介质内部可以存在电场,这是电介质与导体的基本区别。不导电的物质,如空气、玻璃、云母片、胶木等。
介质损耗有哪几种形式 产生的原因是什么
绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,会在其内部引起能量损耗。这是介质损耗产生的原因。介质损耗有以下几种形式:
1、漏导损耗,实际使用中的绝缘材料在外电场的作用下,总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流,漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。
2、极化损耗,在介质发生缓慢极化时,带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。
3、电离损耗,是由气体引起的,含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时,由于气体的电离吸收能量而造成指耗。
4、结构损耗,在高频电场和低温下,有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。
5、宏观结构不均勾性的介质损耗,工程介质材料大多数是不均匀介质。
扩展资料
离子晶体的损耗,离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等;
玻璃的损耗,复杂玻璃中的介质损耗主要包括三个部分:电导耗、松弛损耗和结构损耗。哪一种损耗占优势,取决于外界因素温度和电场频率;
陶瓷材料的损耗,陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外,表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗;
高分子材料的损耗,高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。
参考资料来源:百度百科——介质损耗
介质损耗因数受哪些因素影响?
介质损耗因数受哪些因素影响?
影响介质损耗因数测量结果的因素如下:
(1)温度的影响。温度对tanδ有直接影响,其程度因绝缘材料和设备结构而异。一般来说,tanδ随着温度的升高而增加。为了便于比较,应将不同温度下测得的tanδ值换算成20℃后再进行比较。
油浸式电力变压器的温度换算公式为:
tanδ2=tanδ1×1.3(t1-t2)/10
在这个公式中,tanδ1和tanδ2分别是t1和t2时的tanδ值。
由于被测产品的真实平均温度难以准确测量,影响了转换结果的正确性。因此,测量应尽可能在10-30℃的温度下进行,最好每次温度相近。
当受潮的绝缘材料低于0℃时,水分会冻结,tanδ会降低。因此,在太低的温度下测得的tanδ不能反映真实的绝缘情况,所以tanδ的测量温度不应低于5℃。
②测试电压的影响。绝缘良好的Tanδ不随电压的升高而明显增加。如果存在内部缺陷,其tanδ会随着测试电压的升高而明显增大。
(3)tanδ与样品电容的关系。对于电容小的器件(如套管、变压器、耦合电容等。),测量tanδ可以有效发现局部集中和整体分布的缺陷。但对于电容较大的设备(如大中型变压器等。),tanδ的测量只能发现绝缘的整体分布缺陷,因为局部集中缺陷引起的损伤增加只占总损耗的极小一部分,容易被掩盖。设备的绝缘结构总是由许多元件组成,包含多种材料,可视为由许多串并联等效电路组成。
自动抗干扰介损测试仪是参照最新行业标准和电力测试规程开发生产的高精度介损测试仪。采用了最新的变频技术,滤除了工频场中产生的干扰,保证了仪器在强电场干扰下的准确测量。高压升压变压器,采用完善的过零合闸、防雷等安全保护措施。测试时输出0.5 kV ~ 10 kV不同等级的高压,操作简单安全。适用于发电厂、变压器制造厂和电力维护部门。
电介质中为什么会有能量损耗
一、电介质电导引起的损耗
在电场作用下电介质电导(又称漏导)产生的泄漏电流会造成能量损耗。这种损耗在交流与直流作用下都存在,且这种损耗与极化、局部放电引起的损耗比较是很小的。
二、极化引起的损耗
在交流电压作用下,电介质由于周期性的极化过程,电介质中的带电质点要沿交变电场的方向作往复的有限位移并重新排列。这时质点需要克服极化分子间的内摩擦力而造成能量损耗。极化损耗的大小与电解质的性能、结构、温度、交流电压频率等有关。
三、局部放电引起的损耗
绝缘材料中,不可避免地会有些气隙或油隙。在交流电压下,电场分布主要与该材料的介电系数ε成反比,气体的介电系数一般比固体绝缘材料的要低得多,因此承 受的电场强度就大,当外加电压足够高时,气隙中首先发生局部放电。
影响电介质损耗的因素的介绍就聊到这里吧,感谢你花时间阅读本站内容,更多关于电介质产生损耗的原因、影响电介质损耗的因素的信息别忘了在本站进行查找喔。
- 最近发表