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最近很多小伙伴在找薄膜干涉检查平面原理的相关内容，以及薄膜干涉实验原理对应的知识点，劳动晚报小编为大家整理一下《薄膜干涉检查平面原理》的相关资讯，另外还找了一部分有关《薄膜干涉实验原理》的内容，文章篇幅比较长，希望对大家有帮助！
本文目录一览：
- 1、谁能详细的解释一下薄膜干涉现象的概念与原理。
- 2、高中物理：关于光的干涉之薄膜干涉。
- 3、求薄膜干涉实验原理详细讲解!!!!
- 4、求薄膜干涉实验原理详细讲解!!!! 还有就是成像的特点 以及 观察点与光源异侧时的像的特点
- 5、检查表面的平整度 薄膜干涉
- 6、高中 物理 几何光学 使用薄膜干涉检测物体平面是否光滑 的干涉条纹提前或延后的原理 最好使用图解加文字
谁能详细的解释一下薄膜干涉现象的概念与原理。
由薄膜产生的干涉。薄膜可以是透明固体、液体或由两块玻璃所夹的气体薄层。入射光经薄膜上表面反射后得第一束光，折射光经薄膜下表面反射，又经上表面折射后得第二束光，这两束光在薄膜的同侧，由同一入射振动分出，是相干光，属分振幅干涉。若光源为扩展光源（面光源），则只能在两相干光束的特定重叠区才能观察到干涉，故属定域干涉。对两表面互相平行的平面薄膜，干涉条纹定域在无穷远，通常借助于会聚透镜在其像方焦面内观察；对楔形薄膜，干涉条纹定域在薄膜附近。
薄膜干涉中两相干光的光程差公式为 式中n为薄膜的折射率；t为入射点的薄膜厚度；θt为薄膜内的折射角；±λ／2 是由于两束相干光在性质不同的两个界面（一个是光疏-光密界面，另一是光密-光疏界面）上反射而引起的附加光程差。薄膜干涉原理广泛应用于光学表面的检验、微小的角度或线度的精密测量、减反射膜和干涉滤光片的制备等。 等倾干涉和等厚干涉是薄膜干涉的两种典型形式。 由薄膜上、下表面反射(或折射)光束相遇而产生的干涉．薄膜通常由厚度很小的透明介质形成．如肥皂泡膜、水面上的油膜、两片玻璃间所夹的空气膜、照相机镜头上所镀的介质膜等．比较简单的簿膜干涉有两种，一种称做等厚干涉，这是由平行光入射到厚度变化均匀、折射率均匀的薄膜上、下表面而形成的干涉条纹．薄膜厚度相同的地方形成同条干涉条纹，故称等厚干涉．牛顿环和楔形平板干涉都属等厚干涉．另一种称做等倾干涉．当不同倾角的光入射到折射率均匀，上、下表面平行的薄膜上时，同一倾角的光经上、下表面反射(或折射)后相遇形成同一条干涉条纹，不同的干涉明纹或暗纹对应不同的倾角，这种干涉称做等倾干涉．等倾干涉一般采用扩展光源，并通过透镜观察． 把两块干净的玻璃片紧紧压叠，两玻璃片间的空气层就形成空气薄膜．用水银灯或纳灯作为光源，就可以观察到薄膜干涉现象．如果玻璃内表面不很平，所夹空气层厚度不均匀，观察到的将是一些不规则的等厚干涉条纹，通常是一些不规则的同心环．若用很平的玻璃片(如显微镜的承物片)则会出现一些平行条纹．手指用力压紧玻璃片时，空气膜厚度变化，条纹也随之改变．根据这个道理，可以测定平面的平直度．测定的精度很高，甚至几分之一波长那么小的隆起或下陷都可以从条纹的弯曲上检测出来．若使两个很平的玻璃板间有一个很小的角度，就构成一个楔形空气薄膜，用已知波长的单色光入射产生的干涉条纹，可用来测很小的长度．
高中物理：关于光的干涉之薄膜干涉。
1, 不涉及"能级"吧, 没有凹陷的情况下, 为均匀干涉条纹, 各条纹平行且距离相等, 假定为 d
为叙述方便我们假定平面上, 两个等倾平面相交于直线 y, 与 y 垂直, 作一轴线 x, 方向指向光程差增大的方向
一个区域凹陷, 那么在开始凹陷的部分, 光程差加大, 但不要光看光程差, 要看光程差随 x 的增大, 变化率如何. 显然, 在开始凹陷的部分和结束凹陷的部分, 随 x 的增加, 光程差的变化都比没有凹陷的部分大, (就是相当于倾角变大), 这样干涉条纹就要比较密集
这样同平面部分相比, 凹陷开始的地方, 条纹要向 x 轴负方向, 也就薄膜的尖端方向移动...
2. 能量守恒, 反射光能量小了, 透射光能量就大了
求薄膜干涉实验原理详细讲解!!!!
薄膜可以是透明固体、液体或由两块玻璃所夹的气体薄层。入射光经薄膜上表面反射后得第一束光，折射光经薄膜下表面反射，又经上表面折射后得第二束光，这两束光在薄膜的同侧，由同一入射振动分出，是相干光，属分振幅干涉。若光源为扩展光源（面光源），则只能在两相干光束的特定重叠区才能观察到干涉，故属定域干涉。对两表面互相平行的平面薄膜，干涉条纹定域在无穷远，通常借助于会聚透镜在其像方焦面内观察；对楔形薄膜，干涉条纹定域在薄膜附近。
薄膜干涉中两相干光的光程差公式为
式中n为薄膜的折射率；t为入射点的薄膜厚度；θt为薄膜内的折射角；±λ／2
是由于两束相干光在性质不同的两个界面（一个是光疏-光密界面，另一是光密-光疏界面）上反射而引起的附加光程差。薄膜干涉原理广泛应用于光学表面的检验、微小的角度或线度的精密测量、减反射膜和干涉滤光片的制备等。
等倾干涉和等厚干涉是薄膜干涉的两种典型形式。
由薄膜上、下表面反射(或折射)光束相遇而产生的干涉．比较简单的簿膜干涉有两种，一种称做等厚干涉，这是由平行光入射到厚度变化均匀、折射率均匀的薄膜上、下表面而形成的干涉条纹．薄膜厚度相同的地方形成同条干涉条纹，故称等厚干涉．另一种称做等倾干涉．当不同倾角的光入射到折射率均匀，上、下表面平行的薄膜上时，同一倾角的光经上、下表面反射(或折射)后相遇形成同一条干涉条纹，不同的干涉明纹或暗纹对应不同的倾角，这种干涉称做等倾干涉．等倾干涉一般采用扩展光源，并通过透镜观察．
把两块干净的玻璃片紧紧压叠，两玻璃片间的空气层就形成空气薄膜．用水银灯或纳灯作为光源，就可以观察到薄膜干涉现象．如果玻璃内表面不很平，所夹空气层厚度不均匀，观察到的将是一些不规则的等厚干涉条纹，通常是一些不规则的同心环．若用很平的玻璃片(如显微镜的承物片)则会出现一些平行条纹．手指用力压紧玻璃片时，空气膜厚度变化，条纹也随之改变．根据这个道理，可以测定平面的平直度．测定的精度很高，甚至几分之一波长那么小的隆起或下陷都可以从条纹的弯曲上检测出来．若使两个很平的玻璃板间有一个很小的角度，就构成一个楔形空气薄膜，用已知波长的单色光入射产生的干涉条纹，可用来测很小的长度．
求薄膜干涉实验原理详细讲解!!!! 还有就是成像的特点 以及 观察点与光源异侧时的像的特点
肥皂薄膜是由于重力作用形成的上薄下厚的液体薄膜，太阳光是由赤、橙、黄、绿、青、蓝、紫七色光组成的。
在物理学中，人们把频率相同，振动方向平行，相位相同或相位差恒定的两列波相遇时，使某些地方振动始终加强，而使另一些地方振动始终减弱的现象，叫做波的干涉现象。
干涉在叠加区域某些点的光振动始终加强，某些点的光振动始终减弱即在干涉区域内振动强度有稳定的空间分布。
扩展资料：
薄膜干涉实验原理的超导环电路：
对于由两个超导结并联构成的超导环电路，当外加一个磁场时，则将在超导环中感应出一个环流，这使得通过两个超导结的Josephson电流不再相等，各个超导结所造成的相位差也不相同，从而引起超导环电路相位的变化。
超导环电路相位变化的大小与通过环路包围面积的磁通Φ成正比，并且在叠加点的总Josephson电流随着Φ而作周期性变化，这就是超导电流的宏观量子干涉效应。该效应证实了Cooper电子对的干涉和衍射效应。
检查表面的平整度 薄膜干涉
原干涉条纹（左侧对应为尖角位置，实线为亮纹，虚线为暗纹， 且假设第二条亮纹对应的垂直位置上物体表面不平整） ：
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（2） 检验条纹（ 物体表面凸起时）
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（3） 检验条纹（ 物体表面凹陷时）
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原理大致可以理解为，当物体表面凸起时，被薄膜反射出的两列频率相同的光在同一垂直方向上相干（具体内容就不细说了）。
此时垂直方向上两列相干波的相位差恒定，等于这一位置上下两板距离的两倍。
若这一位置的表面凸起，则可认为此位置上两列波的波程差变小了，因此干涉条纹趋向波程差逐渐减小的尖角方向，也就是左侧（具体现象如上图示）
同理，若凹陷则趋向右。
这是别人的解答.
高中 物理 几何光学 使用薄膜干涉检测物体平面是否光滑 的干涉条纹提前或延后的原理 最好使用图解加文字
干涉法检查平整度中凹凸情况的两种判定方法：
1．基本方法
如图甲所示，两板之间形成一层空气膜，用单色光从上向下照射，入射光从空气膜的上下表面反射出两列光波，形成干涉条纹。如果被检查平面是光滑的，得到的干涉图样必是等间距的。如果某处凹下去，则对应亮纹(或暗纹)提前出现，如图乙所示；如果某处凸起来，则对应条纹延后出现，如图丙所示。(注：“提前”与
“延后”不是指在时间上，而是指由左向右的位置顺序上)
2．旋转法
这是一种方便快捷地判定被检查平面上是凸起还是凹陷的经验性方法，而不是能从定理或定律推导得出的理论结果。具体方法是将干涉图样及装置一起在纸面内旋转90。。旋转方向是使装置的劈形空气膜劈尖向下，即装置成“V”字形。如在图甲中需逆时针转过90。，此时干涉条纹成水平状态，其上条纹弯曲处的凸起与凹下情况与被检查平面凸、凹情况一致。如在图中，逆时针旋过90。后，乙图中条纹凹陷，丙图中条纹凸起，说明对应于乙图的被检查平面上有凹下的地方，对应于丙图的有凸起处。
薄膜干涉检查平面原理的介绍就聊到这里吧，感谢你花时间阅读本站内容，更多关于薄膜干涉实验原理、薄膜干涉检查平面原理的信息别忘了在本站进行查找喔。
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